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5.4 Diagnosis

Cambiador de muestras 730, Anexo

169

5.4.3 Memoria de trabajo (RAM)

Este paso de diagnosis ejecuta un ensayo no destructivo a través

de toda el área del contenido de RAM (memoria de trabajo).

• Prepare el aparato para la diagnosis (véase Cap. 5.4.2).

• Pulse <Ð> varias veces, hasta que aparezca

diagnosis

>RAM test

• Pulse <ENTER>

Si no se encuentran errores, aparece en la pantalla :

>RAM test

RAM test ok

• Pulse <ENTER>

diagnosis

>display test

5.4.4 Pantalla

Con este paso de diagnosis se puede controlar la capacidad fun-

cional de los diodos luminosos y de la pantalla.

• Prepare el aparato para la diagnosis (véase cap. 5.4.2).

• Pulse <Ð> varias veces, hasta que aparezca

diagnosis

>display test

• Pulse <ENTER>

Después de pulsar la tecla <ENTER>, el programa realiza automáticamente un proceso de

ensayo para el control óptico de los diodos luminosos y de la pantalla.

⇒ Los diodos luminosos para TOWER 1, TOWER 2 y LEARN parpadean consecutiva-

mente durante un breve tiempo.

⇒ La iluminación de fondo de la pantalla se desconecta y se vuelve a conmutar por un

breve tiempo.

⇒ Aparece la muestra de ensayo de conexión (cada pixel activo).

⇒ Se borran las dos líneas de la pantalla.

⇒ Las dos líneas de la pantalla se escriben una tras otra con los caracteres „ # “, „H“ y por

último con „I“ .

⇒ Las dos líneas se escriben de derecha a izquierda en escritura sin fin

„0123456789ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ“.

• El proceso de ensayo puede detenerse, pulsando la tecla <5>,

y volverse a iniciar.

• El ensayo se abandona con la tecla <QUIT> o <STOP>.

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